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霍尔效应测试仪
详情介绍;系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统
产品详情
详情介绍
● 系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升级，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等
● 该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K
● 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq
● 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-3
● 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cm
● 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板
● 最大样品测量直径：25mm