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扫描电镜SEM
详情介绍 v FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域 v 电子枪种类：冷场发射 v 二次电子图象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV v 放大倍数：20-2,000,000x v 加速电压：0.5-30kV 下一个： 透射电镜TEM |
